MUSTAQIL ISH

KIRISH Bugungi shiddat bilan rivojlanayotgan raqamli texnologiyalar davrida mikroelektronika, xususan, kombinatsion sxemalar keng tarqalgan bo'lib, ular zamonaviy elektron qurilmalarning asosini tashkil etadi. Smartfonlardan tortib sun'iy intellekt tizimlarigacha, deyarli har bir elektron qurilmada millionlab, hatto milliardlab tranzistorlardan tashkil topgan kombinatsion sxemalar mavjud. Bunday murakkab tizimlarning ishonchliligi va to'g'ri ishlashi, ularning loyihalash va ishlab chiqarish jarayonlarida yuqori sifatli testlashni ta'minlashni taqozo etadi. Ishlab chiqarish jarayonidagi xatolar, material nuqsonlari yoki loyihalashdagi kamchiliklar sababli yuzaga keladigan nuqsonlar, ushbu sxemalarning noto'g'ri ishlashiga, xizmat muddatining qisqarishiga yoki butun tizimning ishdan chiqishiga olib kelishi mumkin. Bu esa o'z navbatida katta iqtisodiy yo'qotishlarga, xavfsizlikka tahdidlarga va obro'ga putur yetkazishga sabab bo'ladi. Shu bois, kombinatsion sxemalar uchun samarali va to'liq testlar yaratish, zamonaviy elektronika sanoatining eng dolzarb muammolaridan biri bo'lib qolmoqda. Bulev differensiallash usuli, ayniqsa, murakkab mantiqiy funksiyalarni tahlil qilishda va nuqsonlarni aniqlashda o'zining noyob imkoniyatlari bilan ajralib turadi. Ushbu usulning qo'llanilishi, testlar samaradorligini sezilarli darajada oshirishga, test vaqtini qisqartirishga hamda ishlab chiqarish jarayonida yuzaga keladigan xarajatlarni optimallashtirishga imkon beradi. Shu nuqtai nazardan, Bulev differensiallash usuli yordamida kombinatsion sxemalar uchun testlar tuzish mavzusi nafaqat nazariy, balki amaliy jihatdan ham g'oyat dolzarb hisoblanadi. Kombinatsion sxemalarda yuzaga keladigan nuqsonlarni aniqlash muammosi, ularning murakkablashib borishi bilan yanada kuchaymoqda. An'anaviy testlash usullari ko'pincha barcha mumkin bo'lgan nuqsonlarni qamrab ololmaydi yoki juda ko'p vaqt va resurs talab qiladi. Ayniqsa, yuqori integratsiya darajasidagi (VLSI) sxemalar uchun test to'plam ...