KURS ISHI

KIRISH Elektron spektroskopiya usullari, jumladan UV-Vis, AAS, XRF, XPS va AES kabi texnikalar zamonaviy analitik kimyoda moddalarning tarkibi, tuzilishi va fizik-kimyoviy xossalarini aniqlashda ajralmas vosita hisoblanadi. Global analitik asbob-uskunalar bozori hajmi 2023-yilda taxminan 65 milliard dollarni tashkil etgan bo‘lib, 2028-yilga qadar yillik o‘sish sur’ati 6.5% ga yetishi kutilmoqda [1]. O‘zbekistonda esa ilmiy tadqiqotlar va sanoat ehtiyojlari uchun yuqori aniqlikdagi analitik usullarga bo‘lgan talab ortib bormoqda, bu farmatsevtika, metallurgiya, neft-kimyo va oziq-ovqat sanoati kabi tarmoqlarda sifat nazorati va mahsulotni ishlab chiqish jarayonlarida muhim o‘rin tutadi [2]. Masalan, O‘zbekiston Farmatsevtika sanoatini rivojlantirish agentligi ma'lumotlariga ko'ra, mahsulot sifatini nazorat qilishda spektroskopik usullardan foydalanish 2022-yilda 15% ga oshgan [3]. Ushbu mavzuning dolzarbligi shundaki, elektron spektroskopiya usullari orqali materiallarshunoslik, ekologiya, biologiya va tibbiyot kabi turli sohalarda yangi avlod materiallarini yaratish, atrof-muhitni ifloslantiruvchi moddalarni aniqlash, kasalliklarni tashxislash va davolashda muhim ahamiyatga ega bo‘lgan ma’lumotlarni olish imkoniyati mavjud [4]. Biroq, ushbu murakkab usullarni to‘g‘ri qo‘llash, olingan natijalarni izohlash va ularning amaliy ahamiyatini baholash borasida yetarli bilim va ko‘nikmalar yetishmasligi, shuningdek, mahalliy sharoitda zamonaviy uskunalar bilan ishlash bo‘yicha tajribaning kamligi muammolarni keltirib chiqarmoqda. Ayniqsa, namunalarni tayyorlash, uskunani kalibrlash va spektral ma'lumotlarni tahlil qilishda yuzaga keladigan xatolar natijalarning ishonchliligini pasaytirishi mumkin [5]. Elektron spektroskopiya sohasining o‘rganilganlik darajasi xalqaro miqyosda ancha yuqori bo‘lib, ko‘plab yetuk olimlar tomonidan muhim nazariy va amaliy ishlanmalar amalga oshirilgan. Masalan, Arnold O. Beckman (1940-yillar) UV-Vis spektrofotometrini ixtiro qilib, analitik kimyoga katta hissa qo‘shgan, bu esa keyinchalik ko‘plab moddalarning konsentratsiyasini aniqlash imkonini bergan [6]. Allan Walsh (1950-yillar) atomik absorbsion spektroskopiya (AAS) usulini ishlab chiqib, metallarni yuqori sezuvchanlik bilan aniqlashda inqilobiy o‘zgarish yasadi [7]. Kaj Siegbahn (1981-yilgi Nobel mukofoti laureati) rentgen fotoelektron spektroskopiyasi (XPS) usulini rivojlantir ...